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發(fā)布時(shí)間：2024/12/15
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日本理學(xué)（Rigaku）是的分析儀器制造商，其 X 射線熒光光譜儀（XRF）以高靈敏度、多功能性性能在全球科學(xué)界和工業(yè)領(lǐng)域享有盛譽(yù)。這些儀器被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、冶金、環(huán)境監(jiān)測(cè)、地質(zhì)勘探等多個(gè)領(lǐng)域，為用戶提供快速、非破壞性、多元素同步檢測(cè)的高效解決方案。
高靈敏度與寬廣的檢測(cè)范圍
檢測(cè)元素范圍覆蓋從氧（O）到鈾（U），無(wú)論是輕元素還是重元素都能實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)分析。
采用薄窗光管技術(shù)，顯著提升輕元素檢測(cè)靈敏度，滿足復(fù)雜樣品的多樣化需求。
非破壞性檢測(cè)
無(wú)需復(fù)雜的樣品前處理，不會(huì)損壞樣品的物理或化學(xué)結(jié)構(gòu)。
適用于高價(jià)值或稀有樣品的重復(fù)檢測(cè)。
多元素同步分析
一次掃描即可完成多種元素的定性和定量分析，顯著提升工作效率。
優(yōu)化的軟件和自動(dòng)化功能，讓用戶能夠輕松完成批量樣品檢測(cè)。
廣泛的樣品適配性
支持固體、液體、粉末、薄膜等多種樣品形式，且樣品處理過(guò)程簡(jiǎn)單。
專為大尺寸或重型樣品設(shè)計(jì)的型號(hào)可接受最大直徑達(dá) 400 毫米、重量達(dá) 30 千克的樣品。
高可靠性與低維護(hù)成本
上照射式光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，減少樣品室污染，提升設(shè)備的使用壽命。
采用高強(qiáng)度材料與自動(dòng)化維護(hù)設(shè)計(jì)，減少維護(hù)時(shí)間和成本。
ZSX Primus 波長(zhǎng)色散 X 射線熒光光譜儀
結(jié)合高精度薄窗光管和高分辨率分光晶體，提供輕元素分析性能。
映射功能支持樣品均勻性和夾雜物的檢測(cè)，特別適合復(fù)雜材料分析。
ZSX Primus IV 波長(zhǎng)色散 XRF
上照射式設(shè)計(jì)，減少污染并提升分析穩(wěn)定性。
高精度樣品定位功能，適用于高要求的元素分析，如合金成分檢測(cè)。
ZSX Primus 400 波長(zhǎng)色散 XRF
專為大尺寸樣品而設(shè)計(jì)，可處理濺射靶材、磁盤等大型或重型樣品。
靈活適配工業(yè)中多樣化的檢測(cè)需求。
Supermini 200 臺(tái)式波長(zhǎng)色散 XRF
世界大功率臺(tái)式波長(zhǎng)色散 XRF 光譜儀。
小型化設(shè)計(jì)適用于實(shí)驗(yàn)室或狹小空間，同時(shí)保持高分辨率和低檢測(cè)限。
工業(yè)質(zhì)量控制
精準(zhǔn)分析礦物、合金、水泥等材料中的主要成分與微量元素。
支持生產(chǎn)線實(shí)時(shí)監(jiān)控，優(yōu)化工業(yè)流程。
材料科學(xué)研究
高靈敏度檢測(cè)材料中的雜質(zhì)和添加劑。
微區(qū)分析功能助力新材料研發(fā)和故障檢測(cè)。
環(huán)境監(jiān)測(cè)
檢測(cè)土壤、水樣中的重金屬和污染物，為環(huán)境保護(hù)提供技術(shù)支持。
地質(zhì)與礦物
對(duì)礦石和巖石樣品進(jìn)行元素分析，支持礦產(chǎn)勘探和資源開發(fā)。
高性能
先進(jìn)的光路和探測(cè)技術(shù)結(jié)合優(yōu)化的軟件算法，確保高效精準(zhǔn)的檢測(cè)結(jié)果。
智能化操作
用戶友好的操作界面和自動(dòng)化樣品處理系統(tǒng)，顯著降低操作復(fù)雜性。
耐用性
創(chuàng)新的防污染設(shè)計(jì)和耐用材料，使設(shè)備在高頻使用下依然保持穩(wěn)定性能。
日本理學(xué) X 射線熒光光譜儀以性能、強(qiáng)大的功能和靈活的樣品適配性，滿足了從科研到工業(yè)生產(chǎn)的多樣化需求。無(wú)論是精準(zhǔn)檢測(cè)輕元素、批量處理樣品，還是分析復(fù)雜材料，這些儀器都能提供可靠的解決方案，是現(xiàn)代實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)應(yīng)用的重要工具。
當(dāng)前位置：
